000 | 00819nam a2200229 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 12723 | ||
010 |
_bBrochado _doferta |
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090 | _a12723 | ||
100 | _a19941011d1988 k||y0pory50 ba | ||
101 | _apor | ||
102 | _aPT | ||
200 |
_aEstudo e caracterização de peliculas de silicio amorfo por espectroscopia de infravermelhos _fMaria Manuela de Almeida Carvalho Vieira |
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210 |
_aLisboa _cM. M. A. C. V. _d1988 |
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215 |
_a[26], 222 p. _cil. _d30 cm |
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328 | _aDissertação apresentada à Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade Nova de Lisboa para obtenção do grau de Mestre em Física | ||
606 | _aFísica do estado sólido | ||
680 | _aQC176 | ||
700 |
_aVieira _bMaria Manuela de Almeida Carvalho |
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801 |
_gRPC _aPT |
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942 |
_2lcc _cA _n0 |