Preparação e caracterização de películas finas de nitretos de silício amorfo hidrogenados : propriedades optoelectrónicas e estruturais / Eduardo José Ramos Morgado
Language: por.Country: Portugal.Publication: Lisboa : E. J. R. M., 1988Description: X, 288 p. : il. ; 30 cmThesis: Dissertação apresentada à Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade Nova de Lisboa para obtenção do grau de Doutor em Ciência dos Materiais, na especialidade de Materiais Semicondutores..Subject - Topical Name: Ciência dos materiais | Materiais semicondutoresItem type | Current library | Collection | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
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Monografia | Biblioteca NOVA FCT Depósito 1 | Não Ficção | TA401.MOR FCT 20363 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 0024664 |
Colocação: Dep. 1
Dissertação apresentada à Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade Nova de Lisboa para obtenção do grau de Doutor em Ciência dos Materiais, na especialidade de Materiais Semicondutores.
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