Estudo e caracterização de películas de silício amorfo com aplicação na optoelectrónica / Guiomar Gaspar de Andrade Evans
Language: por.Country: Portugal.Publication: Lisboa : G. G. A. E., 1995Description: XXII, 180 p. : il. ; 30 cmThesis: Dissertação apresentada na Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade Nova de Lisboa para obtenção do grau de Mestre em Engenharia dos Materiais.Subject - Topical Name: 1727| Item type | Current library | Collection | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
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| Teses e dissertações | Biblioteca NOVA FCT Depósito 1 | Não Ficção | TA401.EVA FCT 37736 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 0024627 |
Dissertação apresentada na Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade Nova de Lisboa para obtenção do grau de Mestre em Engenharia dos Materiais
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