Caractérisation électrique de couches enfouies de carbure de silicium (SiC) obtenues par implantation d'ions carbone dans le silicium monocristallin / Ahmed Mouhoub
Language: fre.Country: FR -França.Publication: Lyon : A. M. , 1980Description: 82 p. : il. ; 25 cmThesis: Dissertação apresentada à l'Université Claude Bernard Lyon para obtenção do doctorat de 3ème cycle de Physique des Matériaux.Subject - Topical Name: Ciência dos materiais | 35602| Item type | Current library | Collection | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
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| Monografia | Biblioteca NOVA FCT Depósito 1 | Não Ficção | TA401.MOU FCT 7199 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 0024666 |
Colocação: Dep. 1
Dissertação apresentada à l'Université Claude Bernard Lyon para obtenção do doctorat de 3ème cycle de Physique des Matériaux
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