| 000 -Record Label |
|---|
| fixed length control field |
00756nam a2200265 4500 |
| 010 ## - ISBN - International Standard Book Number |
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| Número (ISBN) |
0-471-24139-3 |
| Qualificação |
encadernado |
| Modalidade de aquisição e/ou preço |
€ 124.43 |
| 100 ## - Entrada principal |
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| Dados gerais de processamento |
20040930d1998 k||y0pory50 ba |
| 101 0# - Língua do documento |
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| Língua do texto, banda sonora, etc. |
eng |
| 102 ## - País da publicação |
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| País de publicação |
US - United States of America |
| 200 1# - Título |
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| Título próprio |
Semiconductor material and device characterization |
| Primeira menção de responsabilidade |
Dieter K. Schroder |
| 210 ## - Local de edição |
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| Lugar da edição, distribuição, etc. |
New York [etc.] |
| Nome do editor, distribuidor, etc. |
John Wiley & Sons |
| Data da publicação, distribuição, etc. |
cop. 1998 |
| 215 ## - Descrição física (Vol.pg.fl.tm.fsc) |
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| Descrição física |
XXIV, 760 p. |
| Dimensões |
24 cm |
| 310 ## - Notas Encadernação e aquisição |
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| Texto da nota |
Adquirido DCM |
| 310 ## - Notas Encadernação e aquisição |
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| Texto da nota |
Projecto POCTI/6250, Medidor de tempo de estado sólido, DCM |
| 606 ## - Nome comum como assunto |
|---|
| Koha Internal code |
1790 |
| Elemento de entrada |
Semicondutores |
| 606 ## - Nome comum como assunto |
|---|
| Koha Internal code |
50939 |
| Elemento de entrada |
Semicondutores |
| Subdivisão de assunto |
Testes |
| 680 ## - Classificação Biblioteca Congresso |
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| Notação |
QC611 |
| 700 #1 - Autor (resp. principal) |
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| Palavra de ordem |
Schroder |
| Outra parte do nome |
Dieter K. |
| 801 #0 - Fonte de origem |
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| Regras de catalogação |
RPC |
| País |
Portugal |
| 942 ## - Elementos de entrada adicionados (Koha) |
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| Fonte da classificação ou esquema de estante |
|
| Tipo de item no Koha |
Monografia |
| Suprimido |
0 |
