Gonçalves , Tiago Daniel Teixeira
Implementation of X-ray reflectivity on the characterization of ultra-thin films for memory devices / Tiago Daniel Teixeira Gonçalves . - Monte de Caparica : T. D. T. G. , 2018 . - XXIII, 59 p..
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ISBN
Microeletrónica
Nanotecnologia
LCC TK7874
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