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Centros profundos do silício amorfo hidrogenado, análise por medidas de admitância de díodos Schottky

Amaral, Ana Maria Heleno Branquinho de
Centros profundos do silício amorfo hidrogenado : análise por medidas de admitância de díodos Schottky / Ana Maria Heleno Branquinho de Amaral. - Lisboa : A. M. H. B. A. , 1991 . - XXXV, 249 p. : il. ; 31 cm.

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